Atom-Probe Field Ion Microscopy - Tien T. Tsong
-35% koodilla BOOKS
Toimitus 15-21 arkipäivässä
30 päivän palautusoikeus
The book will be of interest to scientists working on surfaces and interfaces of materials at the atomic level and will provide a useful reference for those using this technique.
Saatat myös pitää
Kuvaus
The book will be of interest to scientists working on surfaces and interfaces of materials at the atomic level and will provide a useful reference for those using this technique.
Lisätietoja
| Kirjoittaja | Tien T. Tsong |
|---|---|
| Julkaisija | Cambridge University Press |
| Julkaisuvuosi | 2005 |
| Kannen tyyppi | Pehmeäkantinen |
| EAN | 9780521019934 |