Kaikki kirjat 35 % alennuksella koodilla: BOOKS

  • check Yli 10 miljoonaa kirjaa
  • check Uutuuksia joka päivä
  • check Yli 1 miljoona asiakasta luottaa meihin
  • check Hyvät hinnat ja alennukset
  • check Toimitus koko Eurooppaan

Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective - Eugene R. Hnatek

englanti
1993-08-31
120,11 € 184,78 €

-35% koodilla BOOKS

Toimittajalla varastossa

Toimitus 10-16 arkipäivässä

30 päivän palautusoikeus

Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a

Saatat myös pitää

Kuvaus

Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a

Lisätietoja

Kirjoittaja Eugene R. Hnatek
Julkaisija Springer US
Julkaisuvuosi 1993
Kannen tyyppi Kovakantinen
EAN 9780442006433
Kirjoita oma arvostelusi
Arvostelet: Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective
Arvostelusi:

Goodreads-arvostelut

120,11 € 184,78 €