Failure Analysis: High Technology Devices - Eric J. Carleton,Daniel J. D. Sullivan
-35% koodilla BOOKS
Toimitus 12-18 arkipäivässä
30 päivän palautusoikeus
The book presents a unique view of failure analysis of high technology devices. It describes capabilities and limitations of many analytical techniques and testing paths and decisions best followed in example failure analysis studies.
Saatat myös pitää
Kuvaus
The book presents a unique view of failure analysis of high technology devices. It describes capabilities and limitations of many analytical techniques and testing paths and decisions best followed in example failure analysis studies.
Lisätietoja
| Kirjoittaja | Eric J. Carleton, Daniel J. D. Sullivan |
|---|---|
| Julkaisija | De Gruyter |
| Julkaisuvuosi | 2022 |
| Kannen tyyppi | Pehmeäkantinen |
| EAN | 9781501524783 |