Kaikki kirjat 25 % alennuksella koodilla: BOOKS

  • check Yli 10 miljoonaa kirjaa
  • check Uutuuksia joka päivä
  • check Yli 1 miljoona asiakasta luottaa meihin
  • check Hyvät hinnat ja alennukset
  • check Toimitus koko Eurooppaan

RADIATION EFFECTS & SOFT ERRORS ...(V34) - Schrimpf R D

englanti
2004-07-29
198,80 € 265,06 €

-25% koodilla BOOKS

Toimittajalla varastossa

Toimitus 17-23 arkipäivässä

30 päivän palautusoikeus

This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide-semiconducto ... Täydellinen kuvaus

Saatat myös pitää

Kuvaus

This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide-semiconductor (MOS), and compound semiconductor technologies are discussed. In addition to considering the specific issues associated with high-performance devices and technologies, the book includes the background material necessary for understanding radiation effects at a more general level.

Lisätietoja

Kirjoittaja Schrimpf R D
Julkaisija World Scientific
Julkaisuvuosi 2004
Kannen tyyppi Kovakantinen
EAN 9789812389404
Kirjoita oma arvostelusi
Arvostelet: RADIATION EFFECTS & SOFT ERRORS ...(V34)
Arvostelusi:

Goodreads-arvostelut

198,80 € 265,06 €