Software Defect and Operational Profile Modeling - Kai-Yuan Cai
-35% koodilla BOOKS
Toimitus 22-28 arkipäivässä
30 päivän palautusoikeus
also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1
Saatat myös pitää
Kuvaus
also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1
Lisätietoja
| Kirjoittaja | Kai-Yuan Cai |
|---|---|
| Julkaisija | Springer New York |
| Series | International Series in Software Engineering |
| Julkaisuvuosi | 2012 |
| Kannen tyyppi | Pehmeäkantinen |
| EAN | 9781461375593 |