Kirjat Jose Pineda
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
José Pineda de Gyvez, Manoj Sachdev
-25% koodilla BOOKS
Toimittajalla varastossa
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
José Pineda de Gyvez, Manoj Sachdev
-25% koodilla BOOKS
Toimittajalla varastossa
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
-25% koodilla BOOKS
Toimittajalla varastossa
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration
Amir Zjajo, José Pineda de Gyvez
-25% koodilla BOOKS
Toimittajalla varastossa
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
-25% koodilla BOOKS
Toimittajalla varastossa
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration
Amir Zjajo, José Pineda de Gyvez
-25% koodilla BOOKS
Toimittajalla varastossa