Kaikki kirjat 25 % alennuksella koodilla: BOOKS

  • check Yli 10 miljoonaa kirjaa
  • check Uutuuksia joka päivä
  • check Yli 1 miljoona asiakasta luottaa meihin
  • check Hyvät hinnat ja alennukset
  • check Toimitus koko Eurooppaan

Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light - Philippe Pougnet,Pierre-Richard Dahoo,Abdelkhalak El Hami

englanti
2016-08-22
239,81 € 319,75 €

-25% koodilla BOOKS

Toimittajalla varastossa

Toimitus 22-28 arkipäivässä

30 päivän palautusoikeus

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic ... Täydellinen kuvaus

Kuvaus

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.

Lisätietoja

Kirjoittaja Philippe Pougnet, Pierre-Richard Dahoo, Abdelkhalak El Hami
Julkaisija Wiley
Julkaisuvuosi 2016
Kannen tyyppi Kovakantinen
EAN 9781848219366
Kirjoita oma arvostelusi
Arvostelet: Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Arvostelusi:

Goodreads-arvostelut

239,81 € 319,75 €