Kirjat Philippe Pougnet
Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Philippe Pougnet, Pierre-Richard Dahoo, Abdelkhalak El Hami
-25% koodilla BOOKS
Toimittajalla varastossa
Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Philippe Pougnet, Pierre-Richard Dahoo, Abdelkhalak El Hami
-25% koodilla BOOKS
Toimittajalla varastossa
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and Rbdo Method
Philippe Pougnet, Pierre-Richard Dahoo, Abdelkhalak El Hami
-25% koodilla BOOKS
Toimittajalla varastossa
Embedded Mechatronic Systems 2 Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization
Abdelkhalak El Hami, Philippe Pougnet
-25% koodilla BOOKS
Toimittajalla varastossa